Інститут фізико-технічних та комп'ютерних наук Чернівецького Національного Університету імені Юрія Федьковича

Кафедра фізики твердого тіла

Фодчук Ігор Михайлович

Посада: Професор кафедри фізики твердого тіла.
Вчена ступінь:  Доктор фізико-математичних наук.
Вчене звання:  Професор.
Нагороди: 

  • Лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки (Указ Президента України від 28 грудня 1994 року №810/94);
  • Заслужений діяч науки і техніки України (2015).


Телефон роб.: +38072244834
E-mail: ifodchuk@ukr.net

Дисципліни, що викладаються:

  • 1.    Основи кристалографії та кристалофізики
  • 2.    Дефекти в кристалах
  • 3.    Комп’ютерне моделювання процесів розсіяння
  • 4.    Фізика поверхневих явищ


Наукові інтереси:

  • Теоретичні та експериментальні дослiдження динамiчного розсіяння Х- променiв реальними кристалами, розробка i реалiзація нових експресних i високоiнформативних топодифрактометричних методів неруйнучої структурної діагностики надграткових систем та нанорозмірних структур, тонкоплiвкових та об'ємних кристалiчних матерiалiв при дiї рiзних зовнiшнiх чинникiв.

Основні публікації:
Монографі:

  1. Молодкин В.Б., Низкова А.И., Шпак А.П., Мачулин В.Ф., Кладько В.П., Прокопенко И.В., Кютт Р.Н., Кисловский Е.Н., Олиховский С.И., Фодчук И.М., Дышеков А.А., Хапачев Ю.П. "Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов", Киев, "Академпериодика", 2005, 358С.

Навчальні посібники з грифом МОН України:

  1. Фодчук І.М., Баловсяк С.В. Діагностика поверхні твердого тіла. Загальний стан проблеми та Х-променеві методи. Видавництво «Рута», ЧНУ, 2007. 290с.
  2. Фодчук І.М., Ткач О.О. «Основи кристалографії, кристалохімії та кристалофізики». Навчальний посібник. Видавництво «Рута», ЧНУ, 2007. 290с (Лист МОНУ №1.4/18-Г-12 від 09.01.08)
  3. Фодчук І.М. Дефекти в кристалах. Навчальний посібник. Видавництво «Рута», ЧНУ, 2007. 290с (Лист МОНУ №1.4/18-Г-11 від 09.01.08)

ОСНОВНІ ПУБЛІКАЦІЇ

у  зарубіжних та  вітчизняних міжнародних виданнях (за  2010-2016 роки), що входять  до бібліографічної і реферативної бази даних «SCOPUS»:

 

2016

  1. Fodchuk I.M, GutsuliakI.I., Dovganiuk V.V., Kotsyubynskiy A.O., Pietsch U., Pashniak N.V., Bonchyk O.Y., SyvorotkaI.I., Lytvyn P.M. Magnetic and structural changes in the near-surface epitaxial Y2.95La0.05Fe5O12 films after high-dose ion implantation // Applied Optics. – 2016. – V.55, Iss.12. – P. B144-B149.
  2. I. M. Fodchuk, S M. Novikov,  I.V. Yaremchuk, Direct and inverse problems in X-ray three-crystal LLL-interferometry // Applied Optics. – 2016. – V.55, Iss.12. – B120-B125.
  3. Z.Swiatek, I.M.Fodchuk // Х-ray topography of the subsurface single-crystal layers in a skew asymmetric pattern of diffraction in the reflection geometry // Archives of Metallurgy and Materials, 2016.-50. №9, 445-455.
  4.  I.M. Fodchuk, M.D. Borcha,  V.Yu. Khomenko, S.V. Balovsyaka, V. M. Tkach, and O.O. Statsenko. Strain State in Synthetic Diamond Crystals by the Data of Electron Backscatter Diffraction Method // Journal of Superhard Materials, 2016, Vol. 38, No. 4, pp. 271–276..
  5.  Фодчук И.М., Новиков С.М., Яремчук И.В. Воспроизведение остаточного деформационного поля в кристалле-анализаторе LLL - интерферометра // Металлофизика и новейшие технологии. – 2016. – 38 (3). – С.389-403.
  6. V. B. Molodkin, S. I. Olikhovskii, E. G. Len, Ye. M. Kyslovskyy, O. V. Reshetnyk, T. P. Vladimirova, B. V. Sheludchenko, O. S. Skakunova, V. V. Lizunov, E. V. Kochelab, I. M. Fodchuk, and V. P. Kladko // Dynamical Theory of Triple-Crystal X-Ray Diffractometry and Characterization of Microdefects and Strains in Imperfect Single Crystals // Metallofiz. Noveishie Tekhnol. 2016, т. 38, № 1, сс. 99—139.
  7. Фодчук И.М., Борча М.Д., Хоменко В.Ю., Ткач В.М., Стаценко О.О., Ющенко К.А. Звягинцева А.В., Червяков Н.О.Распределения локальних деформацій в окрестности трещин в сварном шве Ni-Cr-Fe  по данням дифракции обратно-рассеянных электронов // Металлофизика и новейшие технологии. 2016, т. 38, № 10, сс. 99—119.

 

2015

  1. L.А. Kosyachenko, X. Mathew, О.L. Мaslyanchuk, T.І. Mykytyuk, І.М. Fodchuk, V.V. Kulchynsky Optical characteristics of CdMgTe/Cu(In,Ga)Se2 two-terminal tandem solar cell // Solar Energy.‑ 2015. ‑ Vol. 116. – P. 399-406.

 

2014

  1. L.A. Kosyachenko, T.I. Mykytyuk, I.M. Fodchuk, O.L. Maslyanchuk, O.S. Martinez, E.R. Pérez, X. Mathew Electrical characteristicsoft hin-film CdS/CdMgT eheterostructure fortandem solar cells// Solar Energy 01/2014; 109:144–152.
  2. Solovan M. N., Brus V. V., Maryanchuk P. D., Fodchuk I. M., Lorents V. M., Sletov A. M., Sletov M. M., Gluba M. Structural and Photoluminescent Properties of tin Thin Films // Optics and Spektroscopy. – 2014. – 117(5). – P. 753-755. 

2013

  1. Kislovskii E.N., Molodkin V.B., Olikhovskii S.I., Sheludchenko B.V., Lisunova S.V., Vladimirova T.P., Kochelab E.V., Reshetnyk O.V., Dovganyuk V.V., Fodchuk I.M., Lytvynchuk T.V., Klad'ko V.P. Combined Multiparametric X –Ray Diffraction Diagnostics of Microdefectsin Silicon Crystal safter Irradiationby High-Energy Elektrons// Jornal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. - 2013. - Vol.7, No3. - P.523-530.
  2. Остафийчук Б. К., Яремий И. П., Яремий С. И., Федоров В. Д., Томин У. А., Уманцив М.М., ФодчукИ. М., КладькоВ. П. Модификация кристаллической структуры ГГГ облучением ионами гелия// Кристаллография. – 2013.-54, вып.5.-С.1573./(B.K. Ostafiychuk, I.P. Yaremiy, S.I. Yaremiy, V.D. Fedoriv, U.O. Tomyn, M.M. Umantsiv, I.M. Fodchuk, and V.P. Kladko. Modification of the Crystals Structure of Gadolinium Galium Garnetby Helium  IonIrradiation// Crystallography Reports, 2013, Vol. 58,  No7.-pp. 1017 – 1022.
  3. Фодчук И.М., Новиков С.Н., Федорцов Д.Г., Струк А.Я., Яремчук И.В. Рентгенотопографические особенности формирования зображений дислокационных скоплений в кристалле Si // Кристаллография. – 2013. -54,  вып.5.-С.1563. /(I.M. Fodchuk, S.N. Novikov, D.G. Fedortsov, A.Ya. Struk, andI.V. Yaremchuk The Features of X-Ray Topographic Contrast Formationin Silicon with Dislocation Clusters// Crystallography Reports, 2013, Vol. 58,  No7.-pp. 976 – 983.
  4. I.M. Fodchuk, I.I. Gutsuliak, R.A. Zaplitniy, S.V. Balovsyak, I.P. Yaremiy, O.Yu. Bonchuk, G.V. Savitskiy, I.M. Sydorotka, P.M. Lytvyn. Magneticforce microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogenions // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics, 2013.-V.16, N3. – P. 246 – 252.
  5. Борча М.Д., Баловсяк С.В., Фодчук И. М., Хоменко В.Ю., Ткач В.М. Распределение локальних деформаций в кристаллах алмаза, полученных с профилей линий Кикучи // Сверхтвердые материалы. – 2013. – 35, N4. – p.142-149 / (BorchaM. D., BalovsyakS. V., FodchukI. M., KhomenkoV. Yu., TkachV. N. Distribution of local deformation sin diamond crystals accordingtotheanalysis of Kikuchi lines profile intensities // Journal of Superhard Materials.– 2013 – Vol.35, No 4, pp 220-226.
  6. Борча М.Д., Баловсяк С.В., Фодчук И. М., Кройтор О.П., Ткач В.М. Локальные деформации кристаллов алмаза, определенные из Фурье-преобразования картин Кикучи // Сверхтвердые материалы. – 2013. – 35, N5. – p.101-109. / (BorchaM.D., Balovsyak S.V., Fodchuk I.M., Khomenko V.Yu., Kroitor O.P., Tkach V.N. Local strainsin diamond crystals determined by Fourier-trans formation of Kikuchi patterns // Journal of Superhard Materials. – 2013- Vol. 35, No 5, pp 284-291.
  7. И.М. Фодчук, И.И. Гуцуляк, Р.А. Заплитный, И.П. Яремий, А.Ю. Бончик, И.И. Сыворотка. Влияние высокодозового облучения ионами N+ на кристаллическую структуру Y2,95La0,05Fe5O12 // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, № 7. – С. 993 – 1004.
  8. М.Д.Борча, С.В.Баловсяк, И.М.Фодчук, В.Ю. Хоменко, В. Н. Ткач. Определение  структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, № 8. – С. 1137 – 1150.
  9. М.Д. Борча, А.В. Звягинцева, В.М. Ткач, К.А. Ющенко, С.В. Баловсяк, И.М. Фодчук, В.Ю. Хоменко. Локальные деформации в окрестности трещин сварочного шва никелевого сплава, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи// Металлофизика и новейшие технологии. - 2013.  T. 35, №9. – С. 111 – 119.
  10. И.М. Фодчук, С.Н.Новиков, Я. М. Струк, И.В. Фесив. Рентгенодифракционные изображения микроцарапин, представленных в виде многорядных распределений сосредоточенных сил  // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, № 5. – С. 711 – 723.
  11. И.М. Фодчук, В.В. Довганюк, И.И. Гуцуляк, И.П. Яремий, А.Ю.Бончик, Г.В. Савицкий, И.М. Сыворотка, Е.С. Скакунова. Рентгеновская дифрактометрия структуры легированных лантаном железо-иттриевых гранатов после ионной имплантации // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, №9. – С.1209 – 1222.
  12. Баловсяк С. В., Фодчук І.М. Суміщення зображень об’єктів з використанням генетичних та градієнтних алгоритмів // Комп’ютинг. – 2013. – Т. 12, Вип. 2.  – С. 160-169.

 

2011

  1. I.Fodchuk , S. Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, V. Tkach. Determination of structural inhomogeneity of synthesized diamonds by back scattering electron diffraction // Phys.stat.sol.(a). 208, No.11, р.2591-2596, (2011).
  2. V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, Ye.M. Kyslovskyy, T.P. Vladimirova, E.V. Kochelab, O.V. Reshetnyk, V.V. Dovganyuk, І.М. Fodchuk, T.V. Lytvynchuk, V.P. Klad’ko and  Z. Swiatek.  X-ray Diffractometry of Transformations of Microdefect Structure of Silicon crystals after high-energy electron Irradiation // Phys.stat.sol.(a). 208, No.11,  р.2595- 2601, (2011).
  3. V.M. Pylypiv, T.P. Vladimirova, I.M. Fodchuk, B.K. Ostafiychuk, Ye.M. Kyslovskyy, V.B. Molodkin, S.I. Olikhovskii, O.V. Reshetnyk, O.S. Skakunova, V.V. Lizunov, and O.Z. Harpul // Phys.stat.sol.(a). 208, No.11, р.2558-2562, (2011).
  4. Igor M. Fodchuk, Igor V. Fesiv, Sergiy M. Novikov, Yaroslav M. Struk  X-ray moiré patterns of silicon crystals with distortions  caused by local concentrated forces // Proc. of SPIE.  2011, v.8338, 8338 (191 - 197).
  5. Igor M. Fodchuk, Sergiy M. Novikov, AndriyYa. Struk The features of X-ray topographic contrast  ormation in silicon with dislocation clusters // Proc. of SPIE. 2011. v.8338, 8338 (IB1 - IB8).
  6. N. Pashniak, І. Fodchuk, А. Davydok, A. Biermanns, U. Pietsch, S. Balovsyakb, R. Zaplitniy, I. Gutsuliak, О. Bonchyk, G. Savitskiy, І. Vivorotka, І. Yaremiy. High-dose implantation of Y2,95La0,05Fe5O12  epitaxial films by nitrogen ions // Proc. of SPIE. 2011.  v.8338, 8338 (IC1-IC9).
  7. S. Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, I. Fodchuk and V. Tkach  se of electron diffraction for determination of strain distribution in synthetic diamonds // Proc. of SPIE. 2011. v.8338, 8338 (ID1 - ID6).

 

2010

  1. Fodchuk I.M.,  Tkach V.M.,  Ralchenko V.G., Bolshakov A.P.,  Ashkinazi E.E., Vlasov I.I., Garabazhiv Y.D., Balovsyak S.V., Tkach S.V., Kutsay O.M. Distribution in angular mismatch between crystallites in diamond films // Diamond and Related Materials. 19, p. 409 - 412 (2010).
  2. С.Н. Новиков, А.Я. Струк, И.В. Фесив, И.М. Фодчук. Формирование дифракционных изображений деформационных полей на рентгеновских топограммах при действии сосредоточенной силы // Металлофизика и новейшие технологии. – 2010 – т.32. – №8. – С. 1021-1031.
  3. И.М. Фодчук, С.Н. Новиков, А.Я. Струк, Д.Г. Федорцов Особенности формирования дифракционного изображения краевой дислокации на секционных рентгеновских топограммах  // Металлофизика и новейшие технологии. – 2010. – Т. 32. – №8. – С. 1033-1047.
  4. С.М. Новіков, І.М Фодчук, А.Я. Струк. Особливості формування дифракційних зображень скупчень із крайових дислокацій на секційних топограмах // Металлофизика и новейшие технологии. – 2010. – Т. 32. – №9. – С.1198-1209.
  5. І.М. Фодчук, С.Н. Новіков, А.Я. Струк, Д.Г. Федорцов. Вплив макродеформацій на Х-променеве топографічне зображення дислокацій // Металлофизика и новейшие технологии. – 2010 – Т. 32. – №9. – С. 1227-1239.
  6. С.Н. Новиков, А.Я. Струк, И.М. Фодчук. Рентгенотопографические изображения дислокационных петель в кристаллах // Металлофизика и новейшие технологии. – 2010. – Т. 32. – №10. – С.1422-1431.
  7. В.В. Довганюк, В.Б. Молодкин, В.П. Кладько, Е.Н. Кисловский, С.И. Олиховский, Т.В. Литвинчук, И.М. Фодчук. Трансформации в микродефектной структуре монокристаллов Cz-Si после облучения высокоэнергетическими электронами по данным рентгеновской дифрактометрии // Металофизика и новейшие технологии.  2010. т.30, №8. – C. 1246-1261.
  8. Т.П. Владімірова, В.В. Довганюк, І.М Фодчук, Р.Ф. Середенко, В.П. Кладько, В.Б. Молодкін, С.Й. Оліховський, Є.М. Кисловський, Є.В. Кочелаб, Т.В. Литвинчук, О.В. Решетник, Б.В. Шелудченко. Х – променева дифрактометрія змін мікродефектної структури кристалів кремнію  після  опромінення високоенергетичними електронами // Металофизика и новейшие технологии. –2010. т.30, №8. – C. 1246-1261.
  9. І. Fodchuk, V. Dovganyuk, Т. Litvinchuk, V. Klad’ko, M. Slobodyan, Z. Swiatek. Structural changes in Cz-Si single-crystal irradiated by high –energy electrons from high-resolution X-ray difractometry  //Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2010. V. 13, № 2. P. 209-213.
  10. S. Novіkov, І. Fodchuk, D. Fedortsov, A. Struk. Расчетные изображения дислокаций на секционных топограммах в кристаллах // Semiconductor physics, quantum electronics and optoelectronics. – 2010. - Vol. 13. – №.1. – 268-272.
  11. I. Fodchuk, S. Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, V. Tkach. Determination of Structural Homogeneity of Synthetic Diamonds With Analysis of Intensity Distribution of KikuchI Lines // Semiconductor physics, quantum electronics and optoelectronics. - 2010. - Vol. 13. - №.1. - Р.262-267.

2006

2005

2004

2003

2002

  1. Новиков С. Н., Раранский Н. Д., Федорцов Д. Г., Фодчук И. М. Влияние акустического поля на кристаллы, содержащие  дислокации  и  микродефекты //Металлофизика и новейшие технологии. – 2002.  –24(2). – С. 46-51.
  2. Гимчинский О. Г., Гуцуляк Т. Г., Фодчук И. М., Раранский Н. Д., Маслюк В. Т, Омельянчук В. П. Cтруктурное изменения в кристаллах после облучения высокоэнергетическими электронами // Металлофизика и новейшие технологии. – 2002. – 24(4). – С. 76-81.
  3. Борча М. Д., Ткач О. А., Фодчук И. М. Влияние эффекта окольного возбуждения на многоволновое рентгеновское аномальное прохождение в бинарных кристаллах с деформированным слоем // Металлофизика и новейшие технологии. – 2002. – 24(5). – С. 59-66.
  4. Фодчук И. М., Раранский Н. Д., Струк Я. С., Фесив И. В.. Муаровые изображения дефектов в рентгеновской  трехкристальной  интерферометрии // Металлофизика и новейшие технологии. – 2002. – 24(5). – С. 48-53.

2001

  1. Fodchuk I. M., Raransky M. D., Borcha M. D., Gultay L. L., Tkach O. O. The features of anomalous multiple x-ray transmission in Ge crystals with distortions // J. Phys. D: Appl. Phys. – 2001. – 34. – P. A93-97.
  2. Fodchuk I. M., Rarns’ky M. D., Gimchins’ky O. G., Yevdokimenko A. V., Kuznits’ky Z. T., Svyantek Z. Study of structural changes in crystals in the case of ionic implantation // Met. Phys. Adv. Tech. – 2001. – 19. – P. 1069-1076.
  3. Fodchuk I. M., Borcha M. D., Rarans’ky M. D., Gul’taj L. L. The influence of one-dimentional strains on the Borrman effect in the case of three-wave x-ray diffraction // Met. Phys. Adv. Tech. – 2001. – 19. – P. 1627-1634.
  4. Gul’taj L. L., Fodchuk I. M., Borcha M. D., Rarans’ky M. D., Mikhalev I.V. Effect of periodic deformations of crystal on the three-wave anomalous transmission of x-rays // Met. Phys. Adv. Tech. – 2001. – 19. – P. 1359-1365.

2000

  1. Фодчук И. М., Раранский Н. Д., Новиков С. Н., Бобровник С. В. Влияние одномерных деформаций на формирование изображений микродефектов на рентгеновских секционных топограммах // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22(1). – С. 49-55
  2. Раранский Н. Д., Молодкин В. Б., Фодчук И. М., Новиков С. Н., Бобровник С. В. Изображение микродефектов на рентгеновских секционных топограммах в акустически возбужденном кристалле // Металлофизика и новейшие технологии. – 2000. – 22(3). – С. 26-32.
  3. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Струк Я. М., Бобровник С. В. Маятниковые полосы в искаженных кристаллах // Металлофизика и новейшие технологии.-2000. – 22(9). – С. 39-45

1999

  1. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Novikov S. N., Khrupa V. I. Investigation of the influence of short- and long-wavelength acoustic-strains’ field on the roentgenoacoustic interaction //Met. Phys. Adv. Tech. – 1999. – 17. – P. 861-865.
  2. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Gimchins’ky A. G., Khrupa V. I., Maslyuk V. T., Marmus P. Ye. Roentgenoacoustic studies of Si crystals irradiated by high-energy electrons // Met. Phys. Adv. Tech. – 1999. – 17. – P. 1375-1381.
  3. Fodchuk I. M., Raransky M. D., Novikov S. M., Marmus P. E., Bobrovnik S. V. Investigation of formation features of microdefect x-ray topography images in silicon crystals // Proc. SPIE. Вellingham. – 1999. – 3904. – P. 461-467.
  4. Raransky M. D.,Fodchuk I. M., Struk Ya. M., Bobrovnik S. V. Pedellösung fringes in the distorted ctystals // Proc. SPIE. Вellingham.– 1999. – 3904.– P. 442-447.
  5. Фодчук И. М., РаранскийН. Д., Гимчинский А. Г., Евдокименко А. В., Кузницкий З. Т., Свянтек З. Исследование структурных изменений в кристалах при ионной имплантации // Металлофизика и новейшие технологии. – 1999. – 21(8). – С. 40-45.
  6. Гультай Л. Л., Фодчук И. М., Борча М. Д., Раранский Н. Д., Михалев И. В. Влияние периодических деформаций кристалла на трехволновое аномальное прохождение рентгеновских лучей // Металлофизика и новейшие технологии. – 1999. – 21(10). – С. 69-74.
  7. Фодчук И. М., Борча М. Д., Раранский Н. Д., Гультай Л. Л. Влияние одномерных деформаций на эффект Бормана в случае трехволновой дифракции рентгеновских лучей // Металлофизика и новейшие технологии. – 1999. – 21(12). – С. 56-60.

1997

  1. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Borcha M. D., Krytsun I. I. Determination of strain conditions in srystals by multiwave diffraction method // Surface Investigation. – 1997. – 12. – P. 605-610.
  2. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Novikov S. M., Gimchinsky O. G., Marmus P. E. X-ray diffraction contrast of dislocation in crystals under acoustic excitation // Surface Investigation. – 1997. – 12. – P. 611-623.
  3. РаранскийН. Д., Фодчук И. М., Новиков С. Н., Хрупа В. И. Исследования влияния коротко- и длинноволнового акустического поля на рентгеноакустическое взаимодействие // Металлофизика и новейшие технологии. - 1997. – 19(7). – С. 79-81.
  4. РаранскийН. Д., Фодчук И. М., Новиков С. Н., Слипченко К.В. Исследования влияния экспоненциального и эквидистантного изгибов атомных плоскостей на рентгеноакустическое взаимодействие в кристалле Si // Металлофизика и новейшие технологии. – 1997 – 19(9). – С. 47-51.
  5. РаранскийН. Д., Фодчук И. М., Гимчинский А. Г., Хрупа В. И., Маслюк В. Т., Мармус П. Е. Рентгеноакустические исследования кристаллов Si облученных високоэнергетическими электронами // Металлофизика и новейшие технологии. – 1997. – 19(12). – С. 20-24. 

1996

  1. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Borcha M. D., Kshevetskaya M. L. Establishing the stress state and the strain tensor in crystals, using the multiwave diffraction method // Met. Phys. Adv. Tech. – 1996. – 15. – P. 711-718.

1995

  1. Rarans’ky N. D., Fodchuk I. M., Korovyanko O. Zh., Slipchenko K. V. Plane-wave images of microdefects in crystals with periodic deformation fields // Met. Phys. Adv. Tech. – 1995. – 15. – P. 623-630.
  2. Fodchuk I. M., Raransky A. M., Evdokimenko A. V. X-Ray Diffraction Optics of the Submicron Surface Layers // Proc. SPIE. Вellingham. – 1995. – 2647. – P.385-388.
  3. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Коровянко О. Ж., Слипченко К. В. Плосковолновые изображения микродефектов в кристаллах с периодическим полем деформаций // Металлофизика и новейшие технологии. – 1995. – 17(6). – С. 58-62.
  4. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Борча М. Д., Кшевецкая М. Л. Определение напряженного состояния и тензора деформаций в кристаллах методом многоволновой дифракции. // Металлофизика и новейшие технологии. – 1995. – 17(7). – С. 35-39.

1994

  1. Кшевецкий С. А., Раранский А. Н., Фодчук И. М. Рентгеновская дифрактометрия приповерхностных слоев монокристаллов в косонесимметричной схеме дифракции // Металлофизика. – 1994. – 16(4). – С. 66-69.
  2. Раранский Н. Д.,Фодчук И. М., Новиков С. Н., Коровянко О. Ж., Гимчинский А. Г. Особенности рассеяния рентгеновских лучей в акустически возбужденном кристалле, содержащем микродефекты // Металлофизика. – 1994. – 16(4). – С. 33-36.
  3. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Новиков С. Н. Влияние ультразвуковых деформаций на формирование изображения дислокации параллельной поверхностям кристалла // Металлофизика. – 1994. – 16(4). – С. 27-32.

1993

  1. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Гимчинский А. Г., Сергеев В. Н., Струк Я. М., Новиков С. Н., Шафранюк В. П. Влияние акустических деформаций на муаровые картины // Металлофизика. –1993. – 15(2). – С. 72-79.
  2. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Сергеев В. Н., Гимчинский А. Г., Борча М. Д. Влияние акустических деформаций на многоволноую дифракцію в схеме Реннингера // Металлофизика.1993. – 15(2). – С. 80-83.
  3. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Новиков С. Н., Коровянко О.Ж. Влияние акустических деформаций на формирование дифракционного контраста дислокацій в Si // Металлофизика. – 1993. – 15(3) – С. 85-91.

1988

  1. Раранский Н. Д., Фодчук И. М., Струк Я. М., Новиков С. Н. Трехволновая (111, -111) дифракция рентгеновских волн в кристалле Gе с периодическим полем смещений // Металлофизика. – 1988. – 10(5) – С. 59-64.

1986

1985

  1. Раранский Н. Д., Шафранюк В. П., Фодчук И. М.Рентгеноинтерферометрическое изображение полей деформаций вокруг дислокационных скоплений // Металлофизика. – 1985. – 7(5). – C. 63-71.

1983