Інститут фізико-технічних та комп'ютерних наук Чернівецького Національного Університету імені Юрія Федьковича

Кафедра професійної та технологічної освіти і загальної фізики

Кройтор Ольга Петрівна

Асистент
Учений ступінь:
кандидат фізико-математичних наук
Телефон роб.: 0372 584866
Email: kroitor_olga@mail.ru

Дисципліни, що викладаються:

  • Фізика;
  • Технічна механіка;
  • Фізика з основами біофізики рослин;
  • Комунікативні процеси у педагогічній діяльності

Наукові інтереси:

  • Фізика твердого тіла.

Основні публікації:

Статті

  1. D.V. Kondryuk, V.M. Kramar, O.P. Kroitor. Concentration-dimension dependences for the electron energy in AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs nanofilms // Semicond. Phys. Quant. Electron. & Optoelectronics. – 2014. – v. 17, № 2. – P. 160-164.
  2. M.D. Borcha, S.V. Balovsyak, I.M. Fodchuk, V.Yu. Khomenko, O.P. Kroitor, V.N. Tkach.  Local Deformation in Diamond Crystals Defined by the Fourier Transformations of Kikuchi Patterns // Sverkhtverdye Materialy, 2013, Vol. 35, No. 5, pp. 39–48. 
  3. Фодчук И.М., Борча М.Д., Крицун И.И., Гарабажив Я.Д., Кройтор О.П., Кшевецкий О.С., Ткач О.А. Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в структурных исследованиях кристаллов // Металлофизика и новейшие технологии. – 2008. - т. 30. - №9. – С. 1159-1172.
  4. Fodchuk I.M., Gevyk V.B., Gimchinsky O.G., Kislovskii.,  Kroitor O.P., E.N., Molodkin V.B., Olihovskii S.I., Pavelescu E.M., Pessa M. Structural changes in the multilayer systems containing InxGa1-xAs1-yNy/GaAs quantum wells // Semiconductor physics, quantum electronics and optoelectronics. - 2003. - Vol. 6. - №3. – Р. 227-234.  
  5. Фодчук И.М., Кройтор О.П.,  Гевик В.Б., Гимчинский О.Г., Молодкин В.Б., Кисловский Е.М., Олиховский С.И., Песса М., Павелеску Е.М. Структура многослойных систем InxGa1-xAs1-yNy/GaAs по данным двухкристальной рентгеновской дифрактометрии // Металлофизика и новейшие технологии. - 2003. – т. 25. – №8. – С. 1019-1030.
  6. Фодчук І.М., Кройтор О.П., Гевик В.Б., Гімчинський О.Г., Молодкін В.Б., Кисловський Є.М., Оліховський С.І., Песса М., Павелеску Е.М. Міжшарова взаємодифузія у багатошарових структурах InxGa1-xAs1-yNy/GaAs  за даними двокристальної Х-променевої дифрактометрії // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. - 2003. – в. 157. – С. 5-18.
  7. Molodkin V.B., Pessa M., Palevscu E.M., Fodchuk I.M., Kislovskii E.N., Olikhovskii S.I., Vladimirova T.P., Gimchinnsky O.G., Kroitor O.P., Skakunova E.S. X-ray diffraction investigation of InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered structure // Металлофизика и новейшие технологии. – 2002. – т. 24. –  №4. – С. 477-495.