1. Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАНУ.
Відділ рентгеноструктурного і елементного аналізу матеріалів і систем
ЦЕНТР КОЛЕКТИВНОГО КОРИСТУВАННЯ ПРИЛАДАМИ НАН УКРАЇНИ
«Діагностика напівпровідникових матеріалів, структур та приладних систем»
(Керівники – заст. директора ІФН, член-кореспондент НАН України, д.ф.-м.н., професор Кладько Василь Петрович к.ф.-м.наук, ст.н.сп. Литвин Петро Мар’янович)
- атомно-силова мікроскопія (на повітрі та у рідких середовищах);
- магнітна, електростатична та Кельвін-зонд мікроскопія;
- провідна та ємнісна мікроскопія (картографування та локальні ВАХ і ВФХ);
- тунельна мікроскопія (на повітрі);
- наноіндентування;
- елементи нанолітографії і наноманіпуляцій.
Установки:
- Високороздiльний Х-променевий дифрактометр X’Pert PRO MRD;
- Порошковий дифрактометр ARL X’TRA;
- Скануючий зондовий мікроскоп NanoScope IIIa Dimension 3000, методи:
2. Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАНУ.
(заст. директора ІМФ, д.ф.-м.н., професор Лізунов Вячеслав Вячеславович)
Відділ фізики багатопараметричної структурної діагностики №03
Член-кореспондент НАН України (фізика металів), професор, доктор фізико-математичних наук Молодкін Вадим Борисович
3. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля