Баловсяк Сергій Васильович

Основні публікації:

Статті у міжнародних журналах

1. Fodchuk I. M. A Strain State in Synthetic Diamond Crystals by the Data of Electron Backscatter Diffraction Method / I. M. Fodchuk, M. D. Borcha, V. Yu. Khomenko, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, O. O. Statsenko // Journal of Superhard Materials. – 2016. – Vol. 38, No. 4. – pp. 271–276. (SCOPUS)
2. Borcha M. D. Distribution of local deformations in diamond crystals according to the analysis of Kikuchi lines profile intensities / M. D. Borcha, S. V. Balovsyak, I. M. Fodchuk, V. Yu. Khomenko, V. N. Tkach // Journal of  Superhard Materials. – 2013. – V. 35, No. 4. – P. 220-226. (SCOPUS)
3. Баловсяк С. В. Суміщення зображень об’єктів з використанням генетичних та градієнтних алгоритмів / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук // Комп’ютинг. – 2013. – Т. 12, № 2.  – С. 160-169.
4. Borcha M. D. Local deformation in diamond crystals determined by Fourier-transformation of Kikuchi patterns / M. D. Borcha, S. V. Balovsyak, I. M. Fodchuk, V. Yu. Khomenko, O. P. Kroitor, V. N. Tkach // Journal of Superhard Materials. – 2013. – V. 35, No. 5. – P. 284-291. (SCOPUS)

5. Fodchuk I. Determination of structural inhomogeneity of synthesized diamonds by back scattering electron diffraction / I. Fodchuk, S. Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, V. Tkach // Phys. Status Solidi A. – 2011. –– V.208, No.11. – P.2591-2596. (SCOPUS)
6. Balovsyak S. Use of electron diffraction for determination of strain distribution in synthetic diamonds / S.Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, I. Fodchuk, V. Tkach  // Proceedings SPIE. – 2011. – V.8338. – P. 700819 – 1 – 700819-7. (SCOPUS)
7. Fodchuk M. Distribution in Angular Mismatch between Crystallites in Diamond Films Grown in Microwave Plasma / I. M. Fodchuk, V. M. Tkach, V. G. Ralchenko, A. P. Bolshakov, E. E. Ashkinazi, I. I. Vlasov, Y. D. Garabazhiv, S. V. Balovsyak, S. V. Tkach, O. M. Kutsay // Diamond and Related Materials. – 2010. – V. 19. – P.409-412. (SCOPUS)

 

Статті в українських фахових виданнях

1. Баловсяк С. В. Ориентированная фильтрация цифровых электронно-дифракционных изображений / С. В. Баловсяк, Я. Д. Гарабажив, И. М. Фодчук // Радіоелектронні і комп’ютерні системи. – 2016. – № 3. (77). – С. 4-13.
2. Баловсяк С. В. Многоуровневый метод повышения локального контраста и удаления неоднородного фона изображений / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, Ю. Н. Соловей, Я. В. Луцик // Кибернетика и вычислительная техника. – 2015. – № 182. – С. 15-26.
3. Рощупкіна Н. В. Дослідження методу обробки сигналів багатопараметричних сенсорів / Н. В. Рощупкіна, А. О. Саченко, С. В. Баловсяк, О. Ю. Рощупкін // Науковий вісник ЧНУ. Комп’ютерні системи та компоненти. – 2014. – Т. 5, № 2. – С. 57-64.
4. Фодчук І. М. Особливості розподілу деформацій в кристалах, визначених методом дифракції зворотно-розсіяних електронів / І. М. Фодчук, М. Д. Борча, В. Ю. Хоменко, В. М. Ткач, С.В. Баловсяк  // Науковий вісник ЧНУ. Фізика. Електроніка. – 2014. – Т. 3, № 2. – C. 29-38.
5. Борча М. Д. Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко, В. Н. Ткач // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, № 8. – С. 1137-1150. (SCOPUS)
6. Борча М. Д. Локальные деформации в окрестности трещин сварочного шва никелевого сплава, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи / М. Д. Борча, А. В.Звягинцева, В. М. Ткач, К. А. Ющенко, С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко // Металлофизика и новейшие технологии. – 2013. – T. 35, № 9. – С. 111-119. (SCOPUS)
7. Fodchuk І. M. Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions / І. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, І. P. Yaremiy, О. Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, І. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn // Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. – 2013. – V. 16, No. 3. – P. 246-252.
8. Баловсяк С. В. Програмне забезпечення для автоматизованого керування Х-променевими дифрактометрами / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук // Науковий вісник ЧНУ. Комп’ютерні системи та компоненти. – 2011. – Т. 2, № 2. – C.57-63.
9. Fodchuk I. Determination of Structural Homogeneity of Synthetic Diamonds With Analysis of Intensity Distribution of KikuchI Lines / Fodchuk, S. Balovsyak, M. Borcha, Ya. Garabazhiv, V. Tkach // Semiconductor physics, quantum electronics and optoelectronics. – 2010. – V. 13, No. 1. – Р.262-267.
10. Борча М. Д. Определение структурной неоднородности искусственных кристаллов алмазов методом Кикучи – дифракции / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, Я. Д. Гарабажив, В. М. Ткач, И. М. Фодчук // Металлофизика и новейшие технологии. – 2009. – Т. 31, № 7. – С.911-925. (SCOPUS)
11. Баловсяк С. В. Розпізнавання зображень символів за допомогою штучних нейронних мереж з використанням перетворення Фур’є / С. В. Баловсяк, Н. В. Личук  // Матеріали 16 міжнародної конференції з автоматичного управління „АВТОМАТИКА-2009”, 22-25 вересня 2009. – Чернівці: Книги-ХХІ, 2009. – С.291-293.
12. Ткач В.М. Визначення структурної неоднорідності синтезованих алмазів та розорієнтації кристалітів/зерен полікристалічних матеріалів методом Кікучі-дифракції / В.М. Ткач, І.М. Фодчук, М.Д. Борча, Я.Д. Гарабажів, С.В. Баловсяк, В.Г. Ральченко, С.В. Ткач // Науковий вісник ЧНУ. Фізика. Електроніка. – 2009. – № 438. – C.81-94.
13. Баловсяк С. В. Алгоритми і програмне забезпечення розв’язку деяких задач розсіяння електронів та Х-променів / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук // Науковий вісник ЧНУ. Фізика. Електроніка. – 2009. – № 437. – C.11-19.
14. Баловсяк С. В. Програмний комплекс для аналізу ліній Кікучі / С. В. Баловсяк, Я. Д. Гарабажів, І. М. Фодчук  // Вісник Хмельницького національного університету. Технічні науки. – 2009. – №4 (137). – С.68-73.
15. Баловсяк С. В. Використання штучних нейронних мереж для визначення параметрів напівпровідників за даними Х-променевих методів / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. – 2008. – № 420. – С.45-51.
16. Баловсяк С.В. Корреляционный способ определения деформаций изображений, полученных методами дифракции электронов / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, Я. Д. Гарабажив // Международная конференция „Современные проблемы и пути их решения в науке, транспорте, производстве и образовании’ 2007”, Т.5, 15-25 декабря 2007. – Одесса, Украина, 2007. – С.85-89.
17. Баловсяк С. В. Апаратно-програмний комплекс для автоматизації фізичного експерименту на Х-променевому дифрактометрі ДРОН-4 / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук // Вісник Хмельницького національного університету. Технічні науки. – 2005. – №  – С.100-103.
18. Фодчук І. М. Програмне забезпечення для цифрової обробки зображень в Х-променевій топографії / І. М. Фодчук, І. М. Баловсяк, О. С. Кшевецький, О. М. Потапов // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. – 2004. – № 201. – С.16-21.

 

Матеріали міжнародних та всеукраїнських конференцій

1. Баловсяк С. В. Орієнтована фільтрація зображень в просторовій області / С. В. Баловсяк, А. Ю. Мельничук // Матеріали V Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2016”, 21-24 травня 2016. – Чернівці : Родовід, 2016.– С. 131-133.
2. Баловсяк С. В. Програмне забезпечення для підвищення локального контрасту та видалення неоднорідного фону зображень / С. В. Баловсяк, К. В. Цигира // Матеріали V Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2016”, 21-24 травня 2016. – Чернівці : Родовід, 2016.– С. 135-137.
3. Баловсяк С. В. Визначення оптимальної дисперсії ядра фільтра Гауса при фільтрації гаусового шуму на зображеннях з однією просторовою частотою корисного сигналу / С. В. Баловсяк, Х. С. Одайська // Матеріали V Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2016”, 21-24 травня 2016. – Чернівці : Родовід, 2016.– С. 133-135.
4. Баловсяк С. В. Сегментація зображень з використанням інформації про відстані до об’єктів / С. В. Баловсяк, О. О. Пшеничний // Матеріали V Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2016”, 21-24 травня 2016. – Чернівці : Родовід, 2016.– С. 192-193.
5. Fodchuk I. Full strain tensor determination in synthesized diamonds and diamonds films / I. Fodchuk, M. Borcha, V. Khomenko, S. Balovsyak, V. Tkach, O. Statsenko  // 13th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “X-Top 2016”. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. – 4-8 September 2016. – Brno, Czech Republic, 2016. – P.285.
6. Баловсяк С. В. Підвищення точності діагностики локальних деформацій в штучних кристалах алмазу шляхом цифрової обробки електронно-мікроскопічних зображень / С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук, В. М. Ткач // VІІ Українська наукова конференція з фізики напівпровідників УНКФН-7, 26 – 30 вересня 2016 р. – Дніпро : ПП Щербатих О.В., 2016. – С. 302-303.

7. Balovsiak S. Improved Multisensors Signal Processing / N. Roshchupkina, S. Balovsiak, A. Sachenko, O. Roshchupkin, V. Kochan, R. Smid // 35th International Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO-2015). – 21-24 April 2015. – Kyiv, Ukraine, 2015. – P.341-346. (SCOPUS)

1. Баловсяк С. В. Програмне забезпечення для підвищення візуальної якості сканованих текстів за допомогою модифікованих методів просторової фільтрації / С. В. Баловсяк, С. Л. Воропаєва, Л. М. Карча // Матеріали ІV Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2015”, 26-29 травня 2015. – Чернівці : Родовід, 2015. – С. 149-151.
2. Balovsyak S. V. Methods of Reconstruction and Restoration of Images / S. V. Balovsyak, I. V. Lutsyk, I. M. Fodchuk // ХV міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок та наносистем, Т.1, 11-16 травня 2015. – Івано-Франківськ, Україна, 2015. – С. 93.
3. Khomenko V. Strain Distribution in Synthesized Diamonds / V. Khomenko, M. Borcha, I. Fodchuk, S. Balovsyak, V. Tkach // ХV міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок та наносистем, Т.1, 11-16 травня 2015. – Івано-Франківськ, Україна, 2015. – С. 271.
4. Khomenko V. EBSD Based Studies of Strain Distribution in Weld Joint of NiCrFe Alloy / V. Khomenko, M. Borcha, I. Fodchuk, S. Balovsyak, S. Tkach, K. Yuschenko, A. Zvyagintseva // ХV міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок та наносистем, Т.1, 11-16 травня 2015. – Івано-Франківськ, Україна, 2015. – С. 363
5. Баловсяк С. В. Підвищення візуальної якості зображень за допомогою штучної нейронної мережі Хопфілда / С. В. Баловсяк, М. О. Якимчук  // Матеріали ІІІ Міжнародної  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2014”, 27-30 травня 2014. – Чернівці : Родовід, 2014. – С. 101-103.
6. Borcha M. Strain distribution in local areas of synthesized diamonds and weld joint of NiCrFe alloy / M. Borcha, I. Fodchuk, S. Balovsyak, V. Tkach, K. Yushenko, A. Zvyaginceva, V. Khomenko  //  12^th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “X-Top 2014”. – 14-19 September 2014. – Villard de Lans, France, 2014. – P.83.
7. Борча М. Д. Визначення деформацій в околі тріщини у зварному шві нікелевого сплаву з аналізу картин Кікучі / М. Д. Борча, А. В. Звягінцева, В. М. Ткач, К. А. Ющенко, С. В. Баловсяк, І. М. Фодчук, В. Ю. Хоменко // VІ Українська наукова конференція з фізики напівпровідників УНКФН-6, 30 вересня – 4 жовтня 2013 р. – Чернівці : Рута, 2013. – С. 453-454.
8. Borcha M. D. Strain measurement of residual deformations in diamond crystals from Kossel and Kikuchi lines / M. D. Borcha, S. V. Balovsyak, V. M. Tkach, I. M. Fodchuk, V. Yu. Khomenko  //  11^th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “X-Top 2012”. – 15-20 September 2012. – St. Petersburg, Russia, 2012. – P.366-367.
9. Баловсяк С. В.  Порівняння зображень об’єктів з використанням генетичних алгоритмів / С. В. Баловсяк, А. І. Недбаєвська  // Матеріали Всеукраїнської  науково-практичної конференції «Проблеми інформатики та комп’ютерної техніки» „ПІКТ – 2012”, 3-5 травня 2012. – Чернівці: Золоті литаври, 2012. – С.100-101.
10. Борча М. Д. Тензометрия упругих деформаций на границах раздела многослойных наноразмерных систем с помощью дифракции отраженных электронов / М. Д. Борча, С. В. Баловсяк, О. П. Кройтор, В. Н. Ткач, И. М. Фодчук  // V Українська наукова конференція з фізики напівпровідників УНКФН-5, 9-15 жовтня 2011 р. – Ужгород, 2011. – С.468.

18. Borcha M. Possibilities of Kikuchi diffraction in researches of multilayer nanoscaled systems / M. Borcha, S. Balovsyak, Ya. Garabazhiv, I. Fodchuk, V. Tkach  // ХІІI міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок та наносистем, Т.1, 16-21 травня 2011. – Івано-Франківськ, Україна, 2011. – С.183.
19. Tkach V. Determination of structural homogeneity of synthetic diamond / Tkach, M. Borcha, S. Balovsyak, Ya. Garabazhiv, I. Fodchuk // 10^th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging “X-Top 2010”, 20-23 September 2010. – Warwick, United Kingdom, 2010. – P.76.
20. Ткач В.Н. Определение структурной однородности искусственных кристаллов алмазов методом Кикучи-дифракции / В. Н. Ткач, М. Д. Борча, С.В. Баловсяк, Я. Д. Гарабажив , И. М. Фодчук, С. В. Ткач  // ХІI международная конференция по физике и технологии тонких пленок и наносистем, Т.1, 18-23 мая 2009. – Ивано-Франковск, Украина, 2009. – С.192-194.
21. Баловсяк С.В. Определение деформаций линий Кикучи с помощью корреляционной функции / С.В. Баловсяк, Я.Д. Гарабажив, И. М. Фодчук // ХІI международная конференция по физике и технологии тонких пленок и наносистем, Т.1, 18-23 мая 2009. – Ивано-Франковск, Украина, 2009. – С.209-210.
22. Ткач В.Н. Структурные характеристики алмазных пленок, выращенных в СВЧ-плазме / В. Н. Ткач, И. М. Фодчук, В. Г. Ральченко, А. П. Большаков, Е. Е. Ашкинази, Я. Д. Гарабажив, С. В. Баловсяк, Е. Ф. Кузьменко  // ХІI международная конференция по физике и технологии тонких пленок и наносистем, Т.1, 18-23 мая 2009. – Ивано-Франковск, Украина, 2009. – С.271-272.
23. Баловсяк С.В. Использование искусственных нейронных сетей для определения параметров нанорельефа поверхности полупроводников за данными метода полного внешнего отражения рентгеновских лучей / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук  // ХI международная конференция по физике и технологии тонких пленок и наносистем, Т.1, 7-12 мая 2007. – Ивано-Франковск, Украина, 2007. – С.77-78
24. Баловсяк С.В. Анализ и цифровая обработка рентгенотопографических изображений / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук // Ювилейная Х международная конференция по физике и технологии тонких пленок, Т.1, 16-21 мая 2005. – Ивано-Франковск, Украина, 2005. – С.165-166.
25. Баловсяк С.В. Методы цифровой обработки изображений в рентгеновской топографии / С. В. Баловсяк, И. М. Фодчук, О. Н. Потапов // II Українська наукова конференція з фізики напівпровідників, Т.2, 20-24 вересня 2004. – Чернівці – Вижниця, Україна, 2004. – С.415-416.

 

СПИСОК ДРУКОВАНИХ ПРАЦЬ:

1. Методичні рекомендації з педагогічної та асистентської практик : для студентів IV – V курсів галузей знань „Інформатика та обчислювальна техніка” та „Системні науки та кібернетика” / Укл. : С. В. Баловсяк, І. Є. Залуцька, О. Л. Сопронюк. – Чернівці : Чернівецький національний університет, 2015. – 36 с. (2.0 друк арк.)
2. Баловсяк С. В. Засоби штучного інтелекту в спеціалізованих комп’ютерних системах : методичні вказівки до лабораторних робіт / С. В. Баловсяк. – Чернівці : Чернівецький національний університет, 2014. – 75 с. (4.4 друк. арк.)
3. Баловсяк С. В. Комп’ютерні системи штучного інтелекту : методичні вказівки до лабораторних робіт / С. В. Баловсяк, О. Я. Олар. – Чернівці : Родовід, 2013 – 100 с. (6 друк. арк.)
4. Баловсяк С. В. Програмування інтерфейсу користувача : методичні вказівки до лабораторних робіт / С. В. Баловсяк. – Чернівці : Родовід, 2013 – 52 с. (3,1 друк. арк.)
5. Федоренко А.П. Основи конструювання обчислювальної техніки: Методичні рекомендації до лабораторного практикуму / А.П. Федоренко, С.В. Баловсяк. – [Вид. 2-ге, випр. і доповн]. – Чернівці : Чернівецький нац. ун-т, 2012. – 92 с. (6 друк. арк.).
6. Федоренко А.П. Основи конструювання обчислювальної техніки : навч. посібник у 2-х част. / А.П. Федоренко, С.В. Баловсяк. – Ч. 1-ша. – [Вид. 2-ге, випр. і доповн.] –  Чернівці : Чернівецький нац. ун-т, 2011. – 76 с (4,5 друк. арк.).
7. Федоренко А.П. Основи конструювання обчислювальної техніки : навч. посібник у 2-х част. / А.П. Федоренко, С.В. Баловсяк. – Ч. 2-га. – [Вид. 2-ге, випр. і доповн.] –  Чернівці : Чернівецький нац. ун-т, 2011. – 80 с (4,7 друк. арк.).
8. Баловсяк С.В. Пристрої зв’язку з об’єктом : методичні вказівки до лабораторних робіт / С.В. Баловсяк. –  Чернівці : ЧНУ, 2011. – 68 с. (4,0 друк. арк.)
9. Баловсяк С.В. Комп’ютерні системи штучного інтелекту: методичні вказівки до лабораторних робіт. –  Чернівці : ЧНУ, 2009. – 60 с. (5 друк. арк.)
10. Федоренко А.П., Баловсяк С.В. Основи конструювання обчислювальної техніки. Методичні рекомендації до лабораторного практикуму. –  Чернівці : Рута, 2008. – 92 с (6 друк. арк.).
11. Фодчук І.М., Баловсяк С.В. Діагностика поверхні твердого тіла. Загальний стан проблеми та Х-променеві методи: Навчальний посібник. – Чернівці : Рута, 2007. – 288 с. (з грифом МОНУ, друк. арк. 15,76)
12. Федоренко А. П., Баловсяк С. В. Основи конструювання обчислювальної техніки. Навчальний посібник. – Ч.2. – Чернівці : Рута, 2006. – 76 с. (5 друк. арк.)
13. Федоренко А.П., Баловсяк С.В. Основи конструювання обчислювальної техніки. Навчальний посібник. – Ч.1. – Чернівці : Рута, 2005. – 76 с. (5 друк. арк.)

 

Патенти на корисну модель

1. Патент на корисну модель 104335 Україна, МПК G01T 1/16 (2006.01), G06F 17/17 (2006/01), G06T 17/30 (2006/01), G09B 23/26 (2006/01). Спосіб визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів / Баловсяк С.В., Фодчук І.М.; Власник: Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича (UA). – № u201506834; заяв. 10.07.2015; опубл. 25.01.2016, Бюл. № 2/2016.
2. Патент на корисну модель 100924 Україна, МПК G01T 1/16 (2006.01), G06F 17/17 (2006.01), G06T 17/30 (2006.01). Спосіб визначення локальних деформацій кристалів на основі профілів розподілу інтенсивності зворотно відбивних електронів / Баловсяк С.В., Ткач В.М., ФодчукІ.М.; Власник: Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича (UA). – № u201502816; заяв. 27.03.2015; опубл. 10.08.2015, Бюл. № 15/2015.